企业简介
. 公司(www.macrotest.com.cn)是专业的集成电路测试解决方案供应商，客户包括国内众多的IC设计公司(DesignHouse、Fabless)、测试工厂(TestingHouse)及封装厂(SubCom) 。测试方案以自主研发的高性价比测试机(ATE)为主，同时涵盖Handler、Prober以及测试所需接口(Product interface) 。 公司背景 07年初创立于科技京城上海集成电路设计孵化基地，从事集成电路测试设备的研发、生产与销售 创业团队拥有10年以上的半导体设备研发、测试、营销经验，团队成员均曾服务于国内外的同类企业 与上海集成电路设计孵化基地共同成立技术服务中心，为客户提供小批量测试和产品验证服务。 已推出模拟测试系统MTS737A和数模混合测试系统MTS737X 09年将推出20M数模混合测试系统和50M SOC测试系统 核心业务 研发并销售自主知识产权的ATE设备 全方位测试技术支持服务，包括方案咨询、产品验证、程序开发、接口设计、系统配套、现场调试、专业培训等等 快捷可靠、成本低廉的小批量测试服务，协助客户解决资源瓶颈 竞争优势 自主设计，针对性强 性价突出，回报率高 界面友好，易学易用 研发支持，服务
上海宏测半导体科技有限公司的工商信息
- 310101000386749
- 91310101660717576J
- 存续（在营、开业、在册）
- 有限责任公司(自然人投资或控股)
- 2007年06月13日
- 包智杰
- 1000.000000
- 2007年06月13日 至 2027年06月12日
- 黄浦区市场监管局
- 2007年06月13日
- 上海市北京东路666号B区604室
- 半导体测试设备的研发，晶圆和成品的程序开发，半导体领域的技术转让、技术开发、技术咨询、技术服务，半导体二手设备的销售。 【依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动】
上海宏测半导体科技有限公司的域名
| 类型 | 名称 | 网址 |
| 网站 | 上海宏测半导体科技有限公司 | http://www.macrotest.com.cn/ |
上海宏测半导体科技有限公司的商标信息
上海宏测半导体科技有限公司的专利信息
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN104035023B | MCU的测试方法和系统 | 2016.12.28 | 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种MCU的测试方法和系统。本发明中，对通过开短路测试的MCU，在 |
| 2 | CN104035021B | 时钟芯片的测试方法和系统 | 2016.12.28 | 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种时钟芯片测试方法和系统。本发明中，根据时钟芯片测试原理，设计并 |
| 3 | CN104280675B | 多SITE并行测试方法 | 2017.02.08 | 本发明涉及半导体测试技术领域，具体涉及一种多SITE并行测试方法，通过对MOSFET产品进行多SIT |
| 4 | CN205562737U | 一种老化处理装置 | 2016.09.07 | 本实用新型提供一种老化处理装置，包括：老化设备；地址数据信号驱动电路；数据线接口；测试控制设备；温度 |
| 5 | CN105676104A | 一种老化处理装置及方法 | 2016.06.15 | 本发明提供一种老化处理装置及方法，上述方法包括以下步骤：多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路 |
| 6 | CN303264537S | 测试系统（MS7000T） | 2015.07.01 | 1．本外观设计产品的名称：测试系统（MS7000T）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测 |
| 7 | CN204422573U | 三自由度操控平台 | 2015.06.24 | 本实用新型公开了一种三自由度操控平台，其包括升降机构、翻转机构、测试头固定机构和测试头，所述翻转机构 |
| 8 | CN104280675A | 多SITE并行测试方法 | 2015.01.14 | 本发明涉及半导体测试技术领域，具体涉及一种多SITE并行测试方法，通过对MOSFET产品进行多SIT |
| 9 | CN104076271A | 锂电池保护电路的测试方法和系统 | 2014.10.01 | 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种锂电池保护电路的测试方法和系统。本发明中，通过确保探针与熔丝的 |
| 10 | CN104035023A | MCU的测试方法和系统 | 2014.09.10 | 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种MCU的测试方法和系统。本发明中，对通过开短路测试的MCU，在 |
| 11 | CN104035021A | 时钟芯片的测试方法和系统 | 2014.09.10 | 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种时钟芯片测试方法和系统。本发明中，根据时钟芯片测试原理，设计并 |
| 12 | CN302923202S | 测试系统（MS7000TWIN） | 2014.08.27 | 1．本外观设计产品的名称：测试系统（MS7000TWIN）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品 |
| 13 | CN302752544S | 模拟测试装置（MS7000） | 2014.03.05 | 外观设计产品的名称：模拟测试装置（MS7000）。外观设计产品的用途：用于测试各类模拟集成电路的功能 |
| 14 | CN203324391U | 通用总线测试系统 | 2013.12.04 | 本实用新型涉及集成电路测试设备，公开了一种通用总线测试系统。本实用新型中，母卡测试选件模组和子卡测试 |
| 15 | CN203133818U | FLEX二级总线集成电路测试系统 | 2013.08.14 | 本实用新型涉及集成电路测试领域，公开了一种FLEX二级总线集成电路测试系统。本实用新型包含上位控制电 |
| 16 | CN203133242U | 三自由度操控平台 | 2013.08.14 | 本实用新型涉及集成电路测试领域，公开了一种三自由度操控平台，用于对测试系统或测试头的移动及翻转控制。 |
| 17 | CN203133243U | 浮地测试系统 | 2013.08.14 | 本实用新型涉及集成电路测试领域，公开了一种浮地测试系统。本实用新型中浮地测试系统包含：浮地测量电路、 |
| 18 | CN201812014U | 集成电路开短路自动测试系统 | 2011.04.27 | 本实用新型涉及一种集成电路开短路自动测试系统，其主要包括电源模块、数据总线、测试通道模块，该集成电路 |
| 19 | CN201796117U | MTS通用总线集成电路测试系统 | 2011.04.13 | 本实用新型涉及一种MTS通用总线集成电路测试系统，涉及集成电路测试领域。其主要包括上位控制电脑、系统 |
| 20 | CN201215580Y | 一种集成电路测试系统 | 2009.04.01 | 一种集成电路测试系统，由上位控制机、背板接口电路、双独立总线电路和待测集成电路接口装置构成，背板接口 |
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